- 20/10/2015
- Buenos Aires, Argentina
El 20 de octubre de 2015 se celebra en Buenos Aires el Taller Nacional e Internacional de Vigilancia e Inteligencia Estratégica (VeIE), como una de las actividades referentes del III Congreso Internacional de RedUE-ALCUE que se desarrollará en la ciudad hasta el viernes 23 de octubre en el Auditorio del Centro de Altos Estudios Universitarios de la Organización de Estados Iberoamericanos (CAEU – OEI), Paraguay 1583 de Ciudad Autónoma de Buenos Aires.
Con la presencia de la secretaria de Planeamiento y Políticas del Ministerio de Ciencia, Tecnología e Innovación Productiva de la Nación. Dra. Ruth Ladenheim, y el Lic. Jorge Robbio, subsecretario de Estudios y Prospectiva del Ministerio de Ciencia, Tecnología e Innovación Productiva de la Nación se inaugurará el Taller nacional de Vigilancia e Inteligencia Estratégica. En primer lugar se entregarán los certificados a las «Antenas Territoriales VeIE» y se presentará la primera publicación nacional de VeIE.
Seguidamente se presentará el estudio: Vigilancia tecnológica e inteligencia competitiva en impresoras 3D en alimentos. Posteriormente se expondrán los resultados y avances en el estudio «Antenas Territoriales VeIE».
Por la tarde habrá una mesa redonda bajo el lema «Buenas prácticas en vigilancia tecnológica internacionales» con la presencia de disertantes de diferentes países de Iberoamérica, entre los que participa el Observatorio Virtual de Transferencia de Tecnología (OVTT). Habrá también un debate cuyo eje serán los “Retos y oportunidades para la colaboración en vigilancia tecnológica en Iberoamérica». Previo al final de la actividad se presentará el III Congreso Internacional RedUE-ALCUE.
La actividad tendrá lugar en el Auditorio del Centro de Altos Estudios Universitarios de la OEI (CAEU), Paraguay 1583, Ciudad Autónoma de Buenos Aires.
Más información: MINCYT